База кодов ГОСТ Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА ← 1 2 3 4 5 … 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 … 79 80 81 82 83 →
Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения Название (англ): Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметровНазвание: Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока Название (англ): Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный методНазвание: Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключенияНазвание: Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановленияНазвание: Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановленияНазвание: Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановленияНазвание: Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
← 1 2 3 4 5 … 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 … 79 80 81 82 83 →
Previous post: База кодов ТНВЭД Поиск по базе ОКУН